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文章來源 : 粵科檢測 發(fā)表時間:2023-04-06 瀏覽量:
江蘇粵科檢測是專業(yè)第三方AEC-Q101認(rèn)證機構(gòu),實驗室具備AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項檢測資質(zhì)和檢測能力,可提供SiC肖特基二極管AEC-Q101認(rèn)證測試服務(wù),可幫助汽車分立半導(dǎo)體企業(yè)制定符合AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)的驗證步驟和實驗方法,幫助這些廠商進入車廠供應(yīng)鏈,縮短與采購商的溝通時間,推動產(chǎn)品品質(zhì)的提高和可交換性。
隨著新能源汽車行業(yè)的發(fā)展與進步,大幅度提高續(xù)航里程成為了行業(yè)發(fā)展的重要任務(wù)。在OBC中,SiC肖特基二極管可以實現(xiàn)更高效的電能轉(zhuǎn)換和更穩(wěn)定的運行,從而提高電池充電速度和效率。此外,SiC肖特基二極管具有更高的溫度穩(wěn)定性,可以在更高的工作溫度下平穩(wěn)運行,從而可以降低能耗損失,提高電動汽車的續(xù)航里程。
SiC肖特基二極管要應(yīng)用到汽車電子領(lǐng)域需要符合AEC-Q101認(rèn)證要求,AEC-Q101是由美國汽車電子委員會(Automotive Electronics Council,簡稱AEC)制定的,關(guān)于汽車電子元件可靠性的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。AEC-Q101認(rèn)證要求電子元件能夠在車輛環(huán)境中穩(wěn)定可靠地工作,具有高耐受性、高溫度容限和高可靠性。AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)涵蓋了多種電子元件,包括晶體管、二極管、MOSFET、傳感器、LED、電容器、電阻器等等。
序號 | 測試項目 | 縮寫 | 檢測方法 |
A 加速環(huán)境應(yīng)力試驗 | |||
A1 | 預(yù)處理 | PC | JEDEC JESD22-A113 |
A2a | 高溫濕工作壽命1 | WHTOL1 | JEDEC JESD22-A101 |
A2b | 高溫濕工作壽命2 | WHTOL2 | JEDEC JESD22-A101 |
A2c | 高濕度高溫反向偏壓 | H3TRB | JEDEC JESD22-A101 |
A3a | 功率溫度循環(huán) | PTC | JEDEC JESD22-A105 |
A3b | 間歇使用壽命 | IOL | MIL-STD-750-1 Method 1037 |
A4 | 溫度循環(huán) | TC | JEDEC JESD22-A104 |
B 組 加速壽命應(yīng)力試驗 | |||
B1a | 高溫濕工作壽命1 | HTOL1 | JEDEC JESD22-A108 |
B1b | 高溫濕工作壽命2 | HTOL2 | JEDEC JESD22-A108 |
B1c | 高溫反向偏壓 | HTRB | JEDEC JESD22-A108 |
B2 | 低溫使用壽命 | LTOL | JEDEC JESD22-A108 |
B3 | 脈沖壽命 | PLT | JEDEC JESD22-A108 |
C 組 封裝組合完整性測試 | |||
C1 | 破壞性物理分析 | DPA | Appendix 6 |
C2 | 物理尺寸 | PD | JEDEC JESD22-B100 |
C3 | 綁線強度 | WBP | MIL-STD-750-2Method 2037 |
C4 | 綁線剪切 | WBS | JESD22-B116 |
C5 | 芯片剪切 | DS | MIL-STD-750-2Method 2017 |
C6 | 端子強度 | TS | MIL-STD-750-2Method 2036 |
C7 | 凝露 | DEW | AEC-Q102-001 |
C8 | 耐焊接熱 | RSG(-wave) | Lead containing devices per JESD22-B106Lead(Pb)-free devices per AEC-Q005 |
C9 | 熱阻 | TR | JEDEC JESD51-50 JESD51-51 JESD51-52 |
C10 | 可焊性 | SD | JEDEC J-STD-002 or IEC 60068-2-58(SMD)IEC 60068-2-20(Through hole) |
C11 | 晶須生長 | WG | AEC-Q005 |
C12 | 硫化氫 | H2S | IEC 60068-2-43 |
C13 | 混合氣流測試 | FMG | IEC 60068-2-60 Test method 4 |
C14 | 板彎曲 | BF | AEC-Q102-002 |
E 組 光電驗證試驗 | |||
E0 | 目檢 | EV | JEDEC JESD22-B101 |
E1 | 應(yīng)力前后電氣和光度試驗 | TEST | Section 2.3.7& User specification or supplier's standard specification |
E2 | 參數(shù)驗證 | PV | individual AEC user specification |
E3 | 靜電放電特性 HBM | HBM | ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 |
E4 | 靜電放電特性 CDM | CDM | AEC-Q101-005 |
G 組 空腔封裝完整性測試 | |||
G1 | 恒定加速度 | CA | MIL-STD-750-2Method 2006 |
G2 | 變頻振動 | VVF | JEDEC JESD22-B103 Condition 1 |
G3 | 機械沖擊 | MS | JEDEC JESD22-B110 |
G4 | 密封性 | HER | JEDEC JESD22-A109 |
1. 品牌信賴:成立于2007年,中國CNAS、CMA認(rèn)可檢驗的高新企業(yè),國家級中小企業(yè)公共技術(shù)服務(wù)平臺;
2. 多方認(rèn)證:多個國內(nèi)外機構(gòu)認(rèn)可,資質(zhì)齊全,檢測報告具有國際公信力;
3. 國際標(biāo)準(zhǔn):實驗室按照國際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC17025規(guī)范建立運行,符合10多個國際國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范;
4. 服務(wù)保障:高效一站式檢測認(rèn)證服務(wù),實驗方案齊全,眾多國內(nèi)外知名企業(yè)信賴。
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